
多模光纖插入損耗測(cè)試的問題
多模光纖插入損耗的測(cè)試在很大程度上取決于測(cè)試光源的發(fā)射條件。不同的光源會(huì)產(chǎn)生不同的發(fā)射條件。例如,一個(gè)LED光源將以“過滿注入(Over fill)”的方式將光注入到光纖內(nèi),而一個(gè)激光器光源(如VCSEL)將以“欠注入(Under fill)”的方式將光注入到光纖內(nèi),如圖1所示。使用不同發(fā)射條件的光源進(jìn)行多模光纖的插入損耗測(cè)試時(shí),由于光源的注入方式不同,將給測(cè)試結(jié)果帶來(lái)差異。
(a)過滿注入 (b)欠注入
圖1 光源發(fā)射條件
當(dāng)采用LED光源進(jìn)行測(cè)試時(shí),由于光源的發(fā)散角大,光源以“過滿注入”的方式將多種模式的光注入到光纖內(nèi)。穩(wěn)定的低階模在靠近纖芯中心傳輸,而不穩(wěn)定的高階模在遠(yuǎn)離纖芯中心甚至在包層中傳輸。不穩(wěn)定的高階模在光纖中傳輸一段距離后將會(huì)消失,因此插入損耗測(cè)試結(jié)果將比實(shí)際值偏大。
當(dāng)采用VCSEL光源進(jìn)行測(cè)試時(shí),由于光源的發(fā)散角小,光源以“欠注入”的方式將少量模式的光注入到光纖內(nèi)。由于光源發(fā)射的高階模數(shù)量太少,而且某些故障(例如連接器插頭對(duì)接時(shí)的纖芯錯(cuò)位)無(wú)法被檢測(cè)到,因此插入損耗測(cè)試結(jié)果將比實(shí)際值偏小。在“過滿注入”和“欠注入”的發(fā)射條件下測(cè)試得到的插入損耗結(jié)果偏差很可能會(huì)高達(dá)50%以上。


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